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  1. 介電常數(shù)與介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)定儀

    介電常數(shù)與介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)定儀

    型號(hào):GDAT-A價(jià)格:面議

    時(shí)間:2024-08-14

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  2. 介電常數(shù)(塑料巖石)測(cè)試儀

    介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

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  3. 介電常數(shù)測(cè)試儀生廠商

    介電常數(shù)測(cè)試儀生廠商

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  4. 絕緣材料介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

    絕緣材料介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

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  5. 介電常數(shù)測(cè)試儀誰家好一些

    介電常數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn):空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測(cè)值偏低,。

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  6. 介電常數(shù)相對(duì)電容率測(cè)試儀

    介電常數(shù)相對(duì)電容率測(cè)試儀工作原理本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成,平板電容器一般用來夾持被測(cè)樣品,園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器,配用儀器作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)

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  7. 工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

    工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀 北廣公司核心技術(shù)由北廣公司嚴(yán)格組建 并有專業(yè)的儀器美工專注外觀設(shè)計(jì) 從儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、售后等 *承建企業(yè)體系 。并且研發(fā)更的試驗(yàn)控制儀器 控制方式*升級(jí) 現(xiàn)研發(fā)的微機(jī)控制儀器、控制方式采用無線藍(lán)牙*技術(shù) 并且可選用 232 / USB/亞太局域網(wǎng)絡(luò)端口,已是全國* *

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    時(shí)間:2024-08-14

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  8. 高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)正切值測(cè)試儀

    高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)正切值測(cè)試儀

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    時(shí)間:2024-08-13

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  9. 絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

    絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀: ◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。 ◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。 ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

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    時(shí)間:2024-08-13

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