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2 使用條件 ①環(huán)境溫度： 0～40℃ ②相對(duì)溫度：≤70% ③供電電流：交流 220V±10%50Hz 2.3 儀器可連續(xù)工作 8 小時(shí) 2.4 消耗功率：約 10W 2.5 外形尺寸：長(zhǎng)寬深 355mm×320mm×145mm 2.6 重量：約 6kg(主機(jī))

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

介質(zhì)損耗角測(cè)試儀型號(hào)：GDAT-A主要特點(diǎn)：空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測(cè)值偏低,。

介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測(cè)值偏低,。

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。

介質(zhì)損耗因數(shù)試驗(yàn)儀/介電常數(shù)測(cè)試儀 滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

廣東介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗是用于衡量絕緣體儲(chǔ)存電能的性能. 它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時(shí)的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時(shí)的電容量之比。