絕緣高頻介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

絕緣高頻介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。

1．測試注意事項

a．本儀器應水平安放；

b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；

c．調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關時，當接近諧振點時請緩調(diào)；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短，足夠粗，并應接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差；

e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）

儀器技術指標：
☆Q值測量：
a．Q值測量范圍：5～999。

b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔。
c．標稱誤差
頻率范圍：25kHz～10MHz；

固有誤差：≤5％±滿度值的2％；

工作誤差：≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍：10MHz～50MHz；

固有誤差：≤7％±滿度值的2％；工作誤差：≤10％±滿度值的2％。

☆電感測量：
a．測量范圍：0.1μH～1H。
b．分 檔：分七個量程。
0.1～1μH，

1～10μH，

10～100μH， 

0.1～lmH，

1～10mH，

10～100mH，

100 mH～1H。

☆電容測量：
a．測量范圍：

1～460pF(460pF以上的電容測量見使用規(guī)則)；

b．電容量調(diào)節(jié)范圍
主調(diào)電容器：

40～500pF；

準 確 度：

150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；

微調(diào)電容量：

－3pF～0～＋3pF；

準 確 度：

±0.2pF。

☆振蕩頻率：

a．振蕩頻率范圍：

25kHz～50MHz；

b．頻率分檔
25～74kHz，

74～213kHz，

213-700kHz，

700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz，

5.2MHz～17MHz，

17～50MHz。

c．頻率誤差：2×10-4±1個字。
☆Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999。

正常工作條件

a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

b．相對濕度：<80％；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 

☆試樣尺寸
圓片形：

厚度2+0.5mm，

直徑為Φ30~40mm（ε<12時），

Φ25~35mm（ε=12~30時），

Φ15~20mm（ε>30時）

☆其他
a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

☆ Q合格指示預置功能

預置范圍：5～1000。

 

特點： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。