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發(fā)布時(shí)間: 2024-08-13
產(chǎn)品型號(hào): GDAT-A
廠商性質(zhì): 生產(chǎn)廠家
所 在 地: 北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號(hào)
產(chǎn)品特點(diǎn): 高頻介電常數(shù)試驗(yàn)儀介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀②根據(jù)試樣的電阻值及直流高壓值選擇合適的量程倍率。③高輸入阻抗直流放大器(輸入阻抗>1015Ω)④指示儀表,指示被測(cè)絕緣電阻。⑤電源供給儀器各部分工作電源。
高頻介電常數(shù)試驗(yàn)儀介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀
介電常數(shù)Σ的測(cè)試
a. 再松開二極片,把被測(cè)樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q表又失諧,此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器,使Q表再回到諧振點(diǎn)上,讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
Σ=D2 / D4
附表一,介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表 | |||
BH916測(cè)試裝置 | GDAT高頻Q表 | ||
平板電容極片 | Φ50mm/Φ38mm可選 | 頻率范圍 | 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz |
間距可調(diào)范圍 | ≥15mm | 頻率指示誤差 | 3×10-5±1個(gè)字 |
夾具插頭間距 | 25mm±0.01mm | 主電容調(diào)節(jié)范圍 | 30-500/18-220pF |
測(cè)微桿分辨率 | 0.001mm | 主調(diào)電容誤差 | <1%或1pF |
夾具損耗角正切值 | ≦4×10-4 (1MHz) | Q測(cè)試范圍 | 2~1023 |
高頻介電常數(shù)試驗(yàn)儀介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測(cè)試系統(tǒng)的二次儀表,其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設(shè)計(jì)代表了行業(yè)的zui高成就,隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機(jī)界面,采用LCD液晶屏顯示各測(cè)量因子:Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測(cè)試頻率F、諧振趨勢(shì)指針等。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測(cè)試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,頻率精度高達(dá)1×10-6。國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測(cè)定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε),把被測(cè)材料作為平板電容的介質(zhì),與輔助電感等構(gòu)成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測(cè)試回路,以獲取zui高的測(cè)試靈敏度。因而Q表法的測(cè)試結(jié)果更真實(shí)地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。
GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機(jī)控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測(cè)Q值甚至tanδ,無須關(guān)注量程和換算,*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測(cè)量的理想工具。
①直流高壓電流輸出 10,50,100,500,1000V 五檔
②根據(jù)試樣的電阻值及直流高壓值選擇合適的量程倍率。
③高輸入阻抗直流放大器(輸入阻抗>1015Ω)
④指示儀表,指示被測(cè)絕緣電阻。
⑤電源供給儀器各部分工作電源。
注 意 事 項(xiàng)
★★★★★★★★★★★★★
儀器使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀以下內(nèi)容,否則將造成儀器損壞或電擊情況。
1. ★檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔,電流電阻量程是否置于104檔。
2. ★接通電源調(diào)零,(注意此時(shí)主機(jī)不得與屏蔽箱線路連接)在“Rx"兩端開路的情況下,調(diào)零使電流表的顯示為0000。然后關(guān)機(jī)。
3. ★將待測(cè)試樣平鋪在不保護(hù)電極正中央,然后用保護(hù)電極壓住樣品,再插入被保護(hù)電極(不保護(hù)電極、保護(hù)電極、被保護(hù)電極應(yīng)同軸且確認(rèn)電極之間無短路)。
4. ★測(cè)體積電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rv邊,測(cè)表面電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rs邊,
5. ★接好測(cè)試線,將測(cè)試線將主機(jī)與屏蔽箱連接好。量程置于104檔,打開主機(jī)后面板電源開關(guān)按鈕。從儀器后面板調(diào)電壓按鈕到所要求的測(cè)量電壓。(比如:GBT 1692-2008 硫化橡膠 絕緣電阻率的測(cè)定 標(biāo)準(zhǔn)中注明要求在500V電壓進(jìn)行測(cè)定,那么電壓就要升到500V)
6. ★電流電阻量程按鈕從低檔位逐漸撥高檔,每撥一次停留1-2秒觀察顯示數(shù)字,當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí),電阻表顯示“1",此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的位置。測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下,在1min的電化時(shí)間后測(cè)量電阻,當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻。
7. ★測(cè)試完畢先將量程撥至(104)檔,然后將測(cè)量電壓撥至10V檔,zui后將測(cè)試按鈕撥到中央位置后關(guān)閉電源。然后進(jìn)行下一次測(cè)試。
8. ★應(yīng)在“Rx"兩端開路時(shí)調(diào)零,一般一次調(diào)零后在測(cè)試過程中不需再調(diào)零。
9. ★禁止將“RX"兩端短路,以免微電流放大器受大電流沖擊。
10. ★不得在測(cè)試過程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓。
11. ★測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸撥往高次檔。
12. ★接通電源后,手指不能觸及高壓線的金屬部分。
13. ★不得測(cè)試過程中不能觸摸微電流測(cè)試端。
14. ★在測(cè)量高阻時(shí),應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽。
15. ★嚴(yán)禁在試測(cè)過程隨意改變電壓量程及在通電過程中打開主機(jī)。
16. ★嚴(yán)禁電流電阻量程未在104檔及電壓在10V檔,更換試樣。
測(cè)試過程 | 不正確的操作方式 | 后果 |
開機(jī)前 | 沒有將電壓撥至10V,電阻電流量程檔撥至104 | 過電流沖擊造成儀器放大器過電流而損壞 |
測(cè)試過程 | 隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞 |
測(cè)試過程 | 改變屏蔽箱上體面電阻,表面電測(cè)測(cè)試開關(guān) | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞 |
測(cè)試過程 | 測(cè)試電壓過高,導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
測(cè)試過程 | 微電流測(cè)量線與高壓線短路 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
測(cè)試完成 | 未將電壓量程撥至10V,電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
準(zhǔn)確度: 準(zhǔn)確度優(yōu)于下表:
量程 | 有效顯示范圍 | 20~30℃ RH<80% |
104 | 0.01~19.99 | 1% |
105 | 0.01~19.99 | 1% |
106 | 0.01~19.99 | 1% |
107 | 0.01~19.99 | 1% |
108 | 0.01~19.99 | 1% |
109 | 0.01~19.99 | 1% |
1010 | 0.01~19.99 | 5%+2字 |
1011 | 0.01~19.99 | 5%+2字 |
1012 | 0.01~19.99 | 5%+5字 |
1013 | 0.01~19.99 | 10%+5字 |
1014 | 0.01~19.99 | 10%+5字 |
1014以上 | 0.01~19.99 | 10-15%+5字 |
( 超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加)測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同
主要特點(diǎn)
?
如果使用這種三電極測(cè)量材料表面電阻或體積電阻,可以按下圖接線:
儀器高壓輸出(紅)接圓環(huán)電極
儀器電流輸入端(芯線)接圓柱電極
儀器地(黑,屏蔽線)接圓盤電極
儀器高壓輸出(紅)接圓盤電極
儀器電流輸入端(芯線)接圓柱電極
儀器地(黑,屏蔽線)接圓環(huán)電極