介電常數(shù)測(cè)量?jī)x電容率測(cè)試儀介電常數(shù)儀  型號(hào)：BDAT-A
一 .概述：  介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。儀器遵從標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5594.4-1985。

介電常數(shù)測(cè)量?jī)x電容率測(cè)試儀

二、儀器的技術(shù)指標(biāo) 1．Q值測(cè)量  a．Q值測(cè)量范圍：5～999。  b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔。 c．標(biāo)稱(chēng)誤差        頻率范圍：25kHz～10MHz；        固有誤差：≤5％±滿(mǎn)度值的2％；工作誤差：≤7％±滿(mǎn)度值的2％；       頻率范圍：10MHz～50MHz；        固有誤差：≤7％±滿(mǎn)度值的2％；工作誤差：≤10％±滿(mǎn)度值的2％。 2．電感測(cè)量  a．測(cè)量范圍：0.1μH～1H。 b．分    檔：分七個(gè)量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．電容測(cè)量  a．測(cè)量范圍：1～460pF（460pF以上的電容測(cè)量見(jiàn)使用規(guī)則）； b．電容量調(diào)節(jié)范圍        主調(diào)電容器：40～500pF；        準(zhǔn)  確  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微調(diào)電容量：－3pF～0～＋3pF；       準(zhǔn)  確  度：±0.2pF。 4．振蕩頻率  a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz； b．頻率分檔：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．頻率誤差：2×10-4±1個(gè)字。  5．Q合格指示預(yù)置功能，預(yù)置范圍：5～999。 6．儀器正常工作條件  a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃； b．相對(duì)濕度：<80％；  c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．試樣尺寸  圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），φ15~20mm（ε>30時(shí)） 8．其他  a．消耗功率：約25W； b．凈重：約7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、實(shí)驗(yàn)步驟：  1．本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電，使用前要檢查市電電壓 是否合適，采用穩(wěn)壓電源，以保證測(cè)試條件的穩(wěn)定。 2．開(kāi)機(jī)預(yù)熱15分鐘，使儀器恢復(fù)正常狀態(tài)后才能開(kāi)始測(cè)試。  3．按部件標(biāo)準(zhǔn)制備好的陶瓷試樣，兩面用燒滲法被上銀層，并分別焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm長(zhǎng)的金屬引線(xiàn)。引線(xiàn)材料為銅，表面鍍銀并浸錫。 4．選擇適當(dāng)?shù)妮o助線(xiàn)圈插入電感接線(xiàn)柱。根據(jù)需要選擇振蕩器頻率，調(diào)節(jié)測(cè) 試電路電容器使電路諧振。假定諧振時(shí)電容為C1，品質(zhì)因素為Q1。 5． 將被測(cè)樣品接在“CX"接線(xiàn)柱上。  6．再調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振，這時(shí)電容為C2，可以直接讀出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游標(biāo)卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d（分別在不同位置測(cè)得兩個(gè)數(shù)據(jù)， 再取其平均值）。  8.方形式樣按其邊長(zhǎng)的4倍計(jì)算Φ值  

四、注意事項(xiàng)  1．圓片形試樣的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，兩面 燒滲銀層、浸錫及焊接引出線(xiàn)要符合技術(shù)條件。  2．電壓或頻率的劇烈波動(dòng)常使電橋不能達(dá)到良好的平衡，所以測(cè)定時(shí)，電壓 和頻率要求穩(wěn)定，電壓變動(dòng)不得大于1%，頻率變動(dòng)不得大于0.5%。 3．電極與試樣的接觸情況，對(duì)tanδ的測(cè)試結(jié)果有很大影響，因此燒滲銀層 電極要求接觸良好、均勻，而厚度合適。  4．試樣吸濕后，測(cè)得的tanδ值增大，影響測(cè)量精度，應(yīng)嚴(yán)格避免試樣吸潮。 5．在測(cè)量過(guò)程中，注意隨時(shí)檢查電橋本體屏蔽的情況，當(dāng)電橋真正達(dá)到平衡， “本體-屏蔽"開(kāi)關(guān)置于任何一邊時(shí)，檢查計(jì)光帶均應(yīng)zui小，而無(wú)大變化。

附錄一、測(cè)試原理簡(jiǎn)介  一、儀器的工作原理 1．“Q"的定義       Q表是根據(jù)串聯(lián)諧振原理設(shè)計(jì)，以諧振電壓的比值來(lái)定位Q值?！癚"表示元件或系統(tǒng)的“品質(zhì)因數(shù)"，其物理含義是在一個(gè)振蕩周期內(nèi)貯存的能量與損耗的能量在這里完成對(duì)信號(hào)的整形，預(yù)計(jì)數(shù)，然后再送到CPU實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)。信號(hào)激勵(lì)部分輸出送到一個(gè)寬帶分壓器，由分壓器饋給測(cè)試調(diào)諧回路一個(gè)恒定幅度的信號(hào)。當(dāng)測(cè)試回路處于諧振狀態(tài)時(shí)，在調(diào)諧電容CT兩端的信號(hào)幅度將是分壓器提供的信號(hào)幅度Q倍。在CT兩端取得的調(diào)諧信號(hào)被信號(hào)放大單元適當(dāng)放大后送到檢波和數(shù)字取樣單元，檢波后經(jīng)數(shù)碼取樣轉(zhuǎn)換，送到控制中心CPU去進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，同時(shí)再送給面板Q調(diào)諧指示表。由控制中心CPU處理過(guò)的頻率值，Q值等其它需顯示數(shù)據(jù)送到顯示控制CPU，由顯示控制CPU完成面板顯示的控制。    

二、結(jié)構(gòu)特性      采用了較低的臺(tái)式機(jī)箱，面板采用PC絲印面板，美觀大方。各主要功能單元，除了顯示部分為了顯示方便和調(diào)諧測(cè)試回路、放大單元為了減小分布參數(shù)，安裝在面板上外，其余都安裝在機(jī)內(nèi)底板上。見(jiàn)圖三面板示意圖。面板左半部是頻率和Q值顯示，操作按鍵和頻率調(diào)諧鈕所在部位。面板右半部是調(diào)諧回路的主，付調(diào)電容所在部位。儀器的頻段控制，標(biāo)頻設(shè)定，諧振點(diǎn)搜索，Q值合格點(diǎn)設(shè)置都以輕觸按鍵實(shí)現(xiàn)控制，頻率調(diào)諧由數(shù)碼開(kāi)關(guān)完成，面板上無(wú)一可調(diào)電位器，極大地簡(jiǎn)化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能鍵說(shuō)明：  1．頻率顯示數(shù)碼管，共5位。 2．頻率單位指示燈，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示燈，超過(guò)已設(shè)置的值時(shí)燈亮。 4．Q值指示數(shù)碼管，共3位。  5．工作頻段選擇按鍵，每按一次，切換至低一個(gè)頻段工作。 6．工作頻段指示燈，表格內(nèi)為對(duì)應(yīng)的頻段工作頻率范圍。7．工作頻段選擇按鍵，每按一次，切換至高一個(gè)頻段工作。  8．工作頻段內(nèi)，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試頻率設(shè)置按鍵，各段內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試頻率見(jiàn)面板功能部分。  9．器件諧振點(diǎn)搜索按鍵，右上角指示燈亮?xí)r表示儀器正工作在自動(dòng)搜索。如 需退出搜索，再按此鍵。 10．頻率調(diào)諧數(shù)碼開(kāi)關(guān)。  11．Q值合格比較值設(shè)定按鍵。 12．Q值調(diào)諧指示表。  13．對(duì)應(yīng)各工作頻段的電感測(cè)量范圍和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試頻率表。  14．調(diào)諧回路的付調(diào)諧電容器調(diào)諧旋鈕，它與主調(diào)諧電容并聯(lián)，旋鈕上方對(duì) 應(yīng)的窗口內(nèi)是該電容的變化范圍指示刻度盤(pán)（－3～+3P）。  15．調(diào)諧回路的主調(diào)電容調(diào)諧旋鈕，上方對(duì)應(yīng)的窗口內(nèi)為主調(diào)電容的電容值 和諧振時(shí)對(duì)應(yīng)的測(cè)試電感值刻度盤(pán)。 16．電源開(kāi)關(guān)  17．測(cè)試回路接線(xiàn)柱，左邊兩個(gè)為電感接入端，右邊兩個(gè)為外接電容接入端。

三、使用方法  該儀器是一種多用途的阻抗測(cè)量?jī)x器，為了提高測(cè)量精度，除了使Q值測(cè)試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測(cè)試方法和殘余參數(shù)修正方法。 1．測(cè)試注意事項(xiàng)  a．本儀器應(yīng)水平安放，校準(zhǔn)Q值指示的電表機(jī)械零點(diǎn)。  b．如果你需要較精確地測(cè)量，請(qǐng)接通電源后，預(yù)熱30分鐘，再進(jìn)行測(cè)試。 c．調(diào)節(jié)主調(diào)電容的電容量時(shí)，特別注意當(dāng)刻度調(diào)到zui大或zui小值時(shí)，不要用力繼續(xù)再調(diào)． d．被測(cè)件和測(cè)試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應(yīng)盡量短，足夠粗，并應(yīng)接觸良好可靠， 以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數(shù)所帶來(lái)的測(cè)量誤差。  e．被測(cè)件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時(shí)可用低耗損的 絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊。  f．手不得靠近試件，以免人體感應(yīng)影響造成測(cè)量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽 罩應(yīng)連接在低電位端的接線(xiàn)柱。 2．高頻線(xiàn)圈的Q值測(cè)量（基本測(cè)量法） A．直接法  a．將按測(cè)線(xiàn)圈接在“Lx"接線(xiàn)柱上； b．選擇適當(dāng)?shù)墓ぷ黝l段和工作頻率； c．將付調(diào)電容調(diào)至0；  d．調(diào)主調(diào)電容器到遠(yuǎn)離諧振點(diǎn)（使Q值電表指示zui小）；  e．先調(diào)主調(diào)電容器到諧振，再調(diào)微調(diào)電容器到精確的諧振點(diǎn)；即Q表讀數(shù)達(dá) zui大，此讀數(shù)即為被測(cè)電感的有效Q值（Qe），若需得到被測(cè)電感的真實(shí)Q值（Qt），則應(yīng)先測(cè)出線(xiàn)圈分布電容C0，然后照下式修正：                12 1 CCCeT?? C1是主調(diào)電容器諧振時(shí)讀數(shù)（微調(diào)電容讀數(shù)合計(jì)在內(nèi)），如諧振時(shí)C1的讀數(shù)很大，C0只占很小比例，則有效Q值（Qe）和真實(shí)Q值（QT）差別可以忽略。  因Q值量程是自動(dòng)切換的，因此在調(diào)諧時(shí)，如遇量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，應(yīng)停頓一下，待Q值穩(wěn)定后，根據(jù)讀數(shù)值變大或變小，確定繼續(xù)調(diào)電容的方向。 B．變?nèi)莘? a．照直讀法“a-f"進(jìn)行，記下諧振時(shí)電容讀數(shù)C1和Q1；  b．轉(zhuǎn)動(dòng)主調(diào)電容，使Q值二次指示均為Q1的0.707時(shí)，記下此時(shí)兩次電容讀數(shù)的差數(shù)ΔC。           CCQ??1 2 倘要得到精確結(jié)果，則線(xiàn)圈的分布電容應(yīng)加在C1之內(nèi)，并應(yīng)使主調(diào)電容作多次偏調(diào)，然后取其平均讀數(shù)。  測(cè)Q值較高的線(xiàn)圈時(shí)，Q值下降到0.707 Q1時(shí)，電容偏調(diào)很小，讀數(shù)誤差較大，這時(shí)可將主電容作較大偏調(diào)（10％以?xún)?nèi)），記下偏調(diào)數(shù)ΔC和偏調(diào)后的Q值讀數(shù)Q2，這時(shí)Q值表達(dá)式為：               122 2 1??????????? C CQ   C. 變頻法  a．按享讀法“a-f"進(jìn)行，在頻率監(jiān)視插座上接上精度優(yōu)于  1×10-6的數(shù)字式頻率計(jì)數(shù)器，記下諧振時(shí)讀數(shù)C1和Q1以及頻率讀數(shù)f0。 b．改變信號(hào)源的頻率使Q值二次指示為Q1的0.707（一次容性失諧，一次感性失諧），記下此時(shí)二次頻率讀數(shù)差值Δf。這時(shí)回路的真實(shí)QT為：             ffQT??0   考慮到線(xiàn)圈的分布電容時(shí)，線(xiàn)圈的有效Q值為：             ? ?? ?????????????????????????CCffCCffQT0010011/ 變頻法測(cè)量Q值一般表達(dá)式（未考慮分布電容）：            12 21???? ???????ff QT     注：Δf是頻率偏調(diào)數(shù)，Q1為諧振時(shí)Q表讀數(shù)，Q2是偏調(diào)后Q表讀數(shù)。 3．高頻線(xiàn)圈電感值的測(cè)量  a．將被測(cè)線(xiàn)圈接在“Lx"接線(xiàn)柱上，接觸要良好；  B．自然頻率法（此法可獲得較準(zhǔn)確的結(jié)果） a．將被測(cè)線(xiàn)圈接在“Lx"接線(xiàn)柱上；  b．將微調(diào)電容器度盤(pán)調(diào)至零，主調(diào)電容器度盤(pán)調(diào)到zui大電容值C1；  c．調(diào)訊號(hào)源頻率，使回路諧振，該頻率為f1；  d．取下被測(cè)線(xiàn)圈，換上一個(gè)能在主調(diào)電容器調(diào)節(jié)范圍內(nèi)和十倍于f1頻率諧振的電感；  e．訊號(hào)源調(diào)到10 f1位置，調(diào)節(jié)主調(diào)電容器到諧振點(diǎn)；  f．將被測(cè)線(xiàn)圈接在"Cx"兩端，調(diào)節(jié)主調(diào)電容器達(dá)諧振，此時(shí)視電容讀數(shù)是增加還是減小。若增加，則應(yīng)將振蕩器頻率調(diào)高些，若減小，則頻率調(diào)低些。 g．再取下被測(cè)線(xiàn)圈，調(diào)節(jié)主調(diào)電容達(dá)到諧振； h．重復(fù)步驟“f"、“g"直到某一頻率，被測(cè)線(xiàn)圈接上“Cx"兩端和不接上均不改變諧振點(diǎn)，這一頻率即為被測(cè)線(xiàn)圈的自然諧振頻率f2，它的C0數(shù)值為：           C0=C1 （f1／f2）2  注：測(cè)量中所需輔助線(xiàn)圈可由LKI-l電感組提供便利。 5．電容器容量的測(cè)量  A. 小于460pF電容器的測(cè)量  a．選一個(gè)適當(dāng)?shù)闹C振電感接到“Lx"的兩端；  b．將微調(diào)電容調(diào)至零，主調(diào)電容器調(diào)到zui大值附近，令這個(gè)電容是C1，如未知電容是小數(shù)值的，C1應(yīng)調(diào)到較小電容值附近，以便達(dá)到盡可能高的分辨 率；  c．調(diào)訊號(hào)源的頻率，使測(cè)試回路諧振，令諧振器Q的讀數(shù)為Q1；  d．將被測(cè)電容接在“Cx"兩端，調(diào)主調(diào)電容器，使測(cè)試電路再諧振，令新的調(diào)諧電容值為C2和指示Q值為Q2。  被測(cè)電容的有效電容為Cx= C1－C2 電容器損耗角正切為            ??0121211 CCtg?? ???? 電容器的有效并聯(lián)電阻為            ??0121211CCRP?? ??? C0為回路諧振電感的自身電容。 B．大于460pF電容器用替代法測(cè)量  a. 取一只適當(dāng)容量的標(biāo)準(zhǔn)電容量，其容量為C3，將它接在“Cx"接線(xiàn)柱上。 b．按5A／a-c各測(cè)試步驟；  c．取下標(biāo)準(zhǔn)電容器，將被測(cè)電容接到"Cx"接線(xiàn)柱，調(diào)節(jié)主調(diào)電容器到諧振，此時(shí)主調(diào)電容量讀數(shù)為C2，則Cx可由下式得到：           Cx=C3+ C1－C2 6．Q合格預(yù)置功能使用  Q合格預(yù)置功能特別適用于工廠(chǎng)需大批量測(cè)試某同規(guī)格元件的Q值時(shí)，當(dāng)該元件Q值超過(guò)某一給定值即為合格，這時(shí)合格指示燈亮儀器同時(shí)嗚叫提醒，這樣可減輕工人視力疲勞，同時(shí)大大加快了測(cè)試速度。 Q合格預(yù)置的步驟：  a．選擇要求的測(cè)試頻率； b．用一只合格元件或一只輔助線(xiàn)圈調(diào)諧測(cè)試回路，使Q值讀數(shù)指示在所需預(yù)置Q值位置上；  c．按一下Q值合格比較按鍵，使Q合格指示燈亮，同時(shí)儀器發(fā)出嗚叫聲，此時(shí)該功能設(shè)置就結(jié)束了；  d．換上要測(cè)試的器件，微調(diào)諧振電容至諧振點(diǎn)，如果該器件的Q值大于設(shè)定的Q值，Q合格指示燈就亮，同時(shí)儀器發(fā)出嗚叫。如需取消已設(shè)置的合格值，只需拿去被測(cè)元件，待Q值指示0時(shí)，再按一下設(shè)置鍵即可。 7．標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試頻率按鍵的使用  如果你需在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試頻率點(diǎn)上，測(cè)試器件時(shí)，你可以先按頻段選擇鍵選擇好標(biāo)準(zhǔn)頻率所在的工作頻段，然后再按一下標(biāo)準(zhǔn)頻率設(shè)置按鍵，儀器就會(huì)替你自動(dòng)準(zhǔn)確地設(shè)置好測(cè)試頻率，省去你花時(shí)間去調(diào)節(jié)頻率。 8．諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索功能的使用  如果你對(duì)電感元件無(wú)法確定它的數(shù)值時(shí)，你就可用該功能來(lái)幫你尋找出它的諧振頻率點(diǎn)。步驟如下： a．把元件接以接線(xiàn)柱上；b．主調(diào)電容調(diào)到中間位上（大概）；  c．按一下搜索按鍵，右上角指示燈亮?xí)r，儀器就進(jìn)入搜索狀態(tài)。  儀器從zui低工作頻率一直搜索到zui高工作頻率，如果你的元件諧振點(diǎn)在頻率覆蓋區(qū)間內(nèi)，搜索結(jié)束后，將會(huì)自動(dòng)停在元件的諧振頻率點(diǎn)附近。  如果臨時(shí)要退出搜索狀態(tài)，可再按一次搜索鍵，儀器會(huì)退出搜索操作。 9．頻率調(diào)諧開(kāi)關(guān)的使用。  頻率調(diào)諧采用了數(shù)碼開(kāi)關(guān)，它能辨別使用者的要求，來(lái)調(diào)節(jié)頻率變化的速率（頻率變化值／檔），在你快速轉(zhuǎn)換該開(kāi)關(guān)時(shí)，頻率變化速率也加快。當(dāng)你緩慢調(diào)節(jié)開(kāi)關(guān)時(shí)，頻率變化速率也慢下來(lái)，zui低可小于分辨力。因此在調(diào)諧時(shí)接近所需的頻率時(shí)，應(yīng)放緩調(diào)節(jié)速度。當(dāng)你調(diào)節(jié)的頻率超出工作頻段的頻率時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)選擇低一個(gè)或高一個(gè)頻段工作。實(shí)際的各工作頻段頻率范圍比面板上提供的頻率范圍略寬一些。 四、維修  1．新購(gòu)儀器的檢查  新購(gòu)的儀器能選用LKI-2電感組，將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測(cè)試Q值，把測(cè)試的情況，例使用的電感號(hào)，測(cè)試頻率Q讀數(shù)，電容讀數(shù)等多次測(cè)得數(shù)及測(cè)試環(huán)境條件逐一詳細(xì)記錄，并把記錄保存起來(lái)，以供以后維修時(shí)作參考。  LKI-2電感組是測(cè)試時(shí)作輔助電感用的，不能把這些電感當(dāng)作高精度的標(biāo)準(zhǔn)電感看待。隨著測(cè)試環(huán)境條件不同，測(cè)得電感器Q值和分布電容可能略有不同。  2．使用和保養(yǎng)  儀器是比較精密的阻抗測(cè)量?jī)x器，在合理使用和注意保養(yǎng)情況下，才能保證長(zhǎng)期穩(wěn)定和較高的測(cè)試精度。 a．熟悉本說(shuō)明書(shū)，正確地使用儀器； b．使儀器經(jīng)常保持清潔、干燥； c．本儀器保用期為一年，如發(fā)現(xiàn)機(jī)械故障或失去準(zhǔn)確度，可以原封送回本廠(chǎng)，

免費(fèi)修理。  附表一  LKI-2電感組  電感No 電感量 準(zhǔn)確度% Q值≥ 分布電容約略值 10 250mH ±5 50 15pF 9 25mH ±5 70 10pF 8 5mH ±5 100 10pF 7 1mH ±5 100 14pF 6 250μH ±5 150 9pF 5 50μH ±5 150 12pF 4 10μH ±5 150 7pF 3 2.5μH ±5 150 7pF  2 0.5μH 0.05μH 200 5pF 1 0.1μH 0.05μH 100 5pF 附：在測(cè)量Q值時(shí)附加說(shuō)明 3．電感組  Q表是根據(jù)串聯(lián)諧振和電壓比值原理工作的，Q表的指示Q值是包括被測(cè)件的有效Q值及測(cè)試回路固有殘量在內(nèi)的整個(gè)諧振回路有效Q值，必須用Q表測(cè)試回路殘量修正Q表的指示Q值，這是Q表測(cè)量的一個(gè)重要特點(diǎn)。  附表二  各Q值均值回路指示值Qen 和測(cè)試回路平均殘量修正系數(shù)表  線(xiàn)圈號(hào) 測(cè)試頻率  QeSTD-A  （No.81014） AS2851 STD-A  Qen 修正系數(shù) Qen 修正系數(shù) 1 100kHz 114 104.5 0.91 108.7 0.95  2 400kHz 135 125 0.93 135 1 3  1MHz 134 131.3 0.98 134 1 4  2MHz 154 150.9 0.98 149.9 0.97  4.5MHz 183 175.7 0.96 175.9 0.96 5  4.5MHz 170 166.6 0.98 160.2 0.94  12MHz 237 213.3 0.9 215.6 0.91 6  12MHz 234 215.3 0.92 180.3 0.77  25MHz 305 265.4 0.87 255.6 0.84 7  25MHz 218 193.5 0.89 163.5 0.75  50MHz 257 224.5 0.87 235.1 0.91Qe：標(biāo)準(zhǔn)有效Q值  在一般情況下，Q表作為低精度儀器使用或利用Q表對(duì)線(xiàn)圈作比較測(cè)量時(shí)，可不必對(duì)殘量的影響進(jìn)行修正。  Q值測(cè)量誤差可按Q值參考標(biāo)準(zhǔn)不同分為二類(lèi)。  我廠(chǎng)采用的一種是以Q表生產(chǎn)廠(chǎng)家所提供并經(jīng)計(jì)量部門(mén)審核的均值回路標(biāo)準(zhǔn)指示值Qen為參考標(biāo)準(zhǔn)，Q表指示Q值Qi的相對(duì)誤差由下式表示：  δQi=[（Qi-Qen）÷Qen]× 100％  式中Qi為標(biāo)有Qen值標(biāo)準(zhǔn)量具在Q表上的實(shí)際指示值。 注：修正系數(shù)主要用于用戶(hù)測(cè)量一個(gè)器件Q值時(shí)，根據(jù)指示的Qi值換算出較準(zhǔn)礎(chǔ)的Q值。  

五、產(chǎn)品的交收檢驗(yàn) 1．檢驗(yàn)環(huán)境要求：  a．環(huán)境溫度：20℃±2℃  相對(duì)濕度<50％； b．供電電源：220V±10V  50Hz±1Hz。 2．檢驗(yàn)設(shè)備要求：  a．設(shè)備應(yīng)在計(jì)量后的有效使用期內(nèi)3．Q值指示檢驗(yàn)  a．檢驗(yàn)設(shè)備：WGSTD-A標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈一套；  b．把標(biāo)準(zhǔn)Q值線(xiàn)圈接入WGSTD-A電感接線(xiàn)柱上； c．選擇標(biāo)準(zhǔn)Q值線(xiàn)圈所規(guī)定的檢定頻率；  d．WGSTD-A表的Q值讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈的本機(jī)均值，Qen 間的相對(duì)誤差應(yīng)符合二.1.C條固有誤差所規(guī)定。 本機(jī)均值系數(shù)見(jiàn)附表二。 4．調(diào)諧電容器準(zhǔn)確度檢驗(yàn) a. 測(cè)試時(shí)應(yīng)斷開(kāi)Q表電源；  b．設(shè)備連接如圖五所示，連接線(xiàn)應(yīng)盡量短，盡可能減小分布電容；                     圖五 c．電容測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)     測(cè)試范圍：30-550pF、±5pF；     測(cè)試精度：30-550pF±0.1％、±5pF±0.05pF；  d．調(diào)諧電容器刻度盤(pán)上指示值與電容測(cè)試儀指示值之間誤差應(yīng)符合二.3.b條規(guī)定。  5．頻率指示誤差檢驗(yàn) a．設(shè)備連接如圖六所示 b．從后面板的頻率監(jiān)測(cè)端用BNC電纜連至頻率計(jì)數(shù)器輸入端； c．頻率計(jì)數(shù)器技術(shù)要求     測(cè)量范圍：10Hz-100MHz；    測(cè)量誤差：<1×10-6；    測(cè)量靈敏度：<30mV；  d．測(cè)試線(xiàn)要求：高頻電纜$YV-50-3；  e．Q表頻率指示值與頻率計(jì)數(shù)器讀數(shù)值間的誤差應(yīng)符合二.4.C條規(guī)定。介電常數(shù)測(cè)試儀操作說(shuō)明  操作步驟：  1、清點(diǎn)步件，確認(rèn)測(cè)試儀器一臺(tái)，試樣夾具一個(gè)，雙接頭導(dǎo)線(xiàn)一根，不同電 感值的電感9個(gè)。如下圖:         2、接通測(cè)試儀器電源并開(kāi)啟儀器使儀器預(yù)熱15分鐘。   3、在儀器預(yù)熱15分鐘過(guò)程中準(zhǔn)備好試樣，試樣要求為：厚度2+0.5mm，直 徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），φ15~20mm（ε>30時(shí)），如果樣品表面有屏蔽層，請(qǐng)?zhí)蕹帘螌?，同時(shí)試樣表面要做到平整。   4、連接測(cè)試儀器與試樣夾具間的導(dǎo)線(xiàn)，測(cè)試儀器這邊導(dǎo)線(xiàn)應(yīng)插在標(biāo)示為接電 容的插孔內(nèi)，試樣夾具這邊則應(yīng)接在夾具上突出兩個(gè)銅極上，接時(shí)先將夾具夾緊。如下圖圖示，但夾緊試樣時(shí)勿放入試樣。                 5、選擇一個(gè)電感值較小的電感，將其接在測(cè)試儀器標(biāo)有電感圖示的處。      6、調(diào)整測(cè)試儀器頻率值為與所接電感匹配的頻率值，如果不知該值為多少， 試樣夾具     導(dǎo)線(xiàn)      測(cè)試儀器頂部接線(xiàn)處     銅極     試樣     接電感      試樣夾具     電感      導(dǎo)線(xiàn)     測(cè)試儀       可在接好電感后，調(diào)節(jié)儀器面板主調(diào)電容，使其對(duì)應(yīng)指針指示在250左右，接著按一下測(cè)試儀器面板上的“搜索"按鈕，此時(shí)搜索指示燈點(diǎn)亮，儀器自動(dòng)匹配頻率值，當(dāng)匹配完成后，搜索指示燈熄滅，儀器zui終顯示匹配值。               7、找C1與Q1：調(diào)節(jié)儀器面板上的主調(diào)電容，可從小至大微調(diào)，同時(shí)觀察面 板上Q值顯示值，當(dāng)Q值顯示為zui大時(shí)，再調(diào)節(jié)儀器面板上微調(diào)電容，再次確認(rèn)Q值為zui大值后記錄下當(dāng)前Q值，同時(shí)記錄下主調(diào)電容與微調(diào)電容指針?biāo)笖?shù)據(jù)之和C值。記錄的C值與Q值即是Q1與C1值。   8、斷開(kāi)試樣夾具上所接導(dǎo)線(xiàn)，松開(kāi)夾具，放入試樣，再夾緊夾具，接好導(dǎo)線(xiàn)。 zui終接線(xiàn)如下圖所示        9、找C2與Q2：重復(fù)前面第7步，找對(duì)應(yīng)的C值與Q值，所記數(shù)據(jù)即為C2 值與Q2值。  10、 數(shù)據(jù)處理：將所記數(shù)據(jù)代入公式，得出測(cè)試結(jié)果

Dielectric constant dielectric loss tester to meet standards: GBT 1409-2006 measurement of electrical insulating materials at power, audio frequency, high frequency （ including meter wavelengths ） of the permittivity and dielectric loss factor of the recommended method
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
GDAT frequency Q table as the latest generation of universal, multi-purpose, multiple range impedance test apparatus, test frequency to achieve the highest domestic 160MHz.
GDAT HF Q meter employs a number of leading technology:
Double scan technique - testing frequency and tuning capacitor double scanning, automatic tuning the search function.
Double test element input - testing frequency and tuning capacitor value can be via a digital key input.
Dual digital tuning - digital frequency tuning, digital tuning capacitor.
Automatic measurement technology - on test implementation of Q value, resonant frequency and capacitance measurement.
The parameters of liquid crystal display, digital display main capacitor, inductance, Q value, signal source frequency, resonant pointer.
DDS direct digital synthesis signal source to ensure that the source of high frequency Baozhen, high precision, high stability margin.
Computer automatic correction and test loop optimization - make test loop residual inductance to a minimum, the complete eradication of Q reading values at different frequencies to be amended puzzle.
Gdat HF Q form innovation design, no doubt for the high frequency components of the impedance measurement provides the perfect solution, it gives in high-frequency electronic design engineers, researchers, university laboratory and electronics manufacturing industry to provide a more convenient detection tool
Measurement, measuring is more accurate, more efficient. The user can at any given frequency apparatus, arbitrary point tuning capacitance detection device without attention to quality, range and conversion unit.
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
Dielectric loss and dielectric constant are all kinds of porcelain, porcelain, ceramic capacitor device, and composite materials is an important physical properties, by measuring the dielectric loss tangent of dielectric constant （ Tan δ andε）, to further understand the effects of dielectric loss and dielectric constant of the various factors, in order to improve the material the property basis; instrument basic principle is the use of high frequency resonance method, and provides, universal, multi-purpose, multiple range impedance test. It uses single-chip computer as the control core of measuring instrument, using the frequency locking, frequency standard test point automatic setting, resonant point automatic search, Q value range automatic conversion, numerical display and other new technology, improved the tuning circuit, the tuning circuit for testing the residual inductance is reduced to the minimum, and retains the original Q table in the automatic amplitude stabilizer technology, makes the new instrument in the use of more convenient, measurement is more accurate. Instrument in high frequency test conditions, measurement of high frequency inductive or resonant loop of the Q value, the inductance of the inductor is the amount and distribution of capacitance, capacitance and loss angle tangent value of electrical materials, dielectric loss in high frequency, high frequency circuit in parallel and series resistance, the characteristic impedance of the transmission line and so on.
The apparatus used in scientific research institutions, schools, factories and other units to inorganic metalloid new material property application research.
Main technical characteristics
Q measurement range of 2 ~ 1023, range profile: 30, 100, 300, 1000, automatic or manual shift
Inherent error≤5% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 6%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Operating error≤7% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 8%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Inductance measuring range of 4.5nH～ 140mH
Capacitance measuring range 1～ 200pF
The main capacitor regulation range 18～ 220pF
The main capacitor regulation accuracy below 100pF± 1pF±1%; 100pF
Signal source frequency coverage range of 100kHz～ 160MHz
Frequency segmentation （ virtual ） 100～ 999.999kHz, 1～ 9.99999MHz, 10～ 99.9999MHz, 100～ 160MHz
Frequency indication error of 3× 10 -5±1 words
With a new dielectric dissipation device with GDAT Series Q table use
A. An overview
 of Q values of P inductance capacitance
9 100KHz 989.4 25mH